一. 测试目的

为了防止人体受到伤害, 单体内如有如下不良 : 螺丝松动, 未锁, 零件脚裂锡, 未焊, 冷焊以及零件脚没有插入孔内, 变压器及零件绝缘度不佳或绝缘间隙距离不够, 螺丝或其它异物掉落其中, FUNCTION测试无法侦测到异常之状态, 因而, 从保护产品质量和产品的安全规则要求的角度出发, 必须要能检测出这些不良, 静态时, 单体内上述不良, 测试设备难找出, 只有将单体放置, 于振动系统中, 上述不良才可通过仪器设备测出来.

二. 测试原理

1. HI-POT TEST<高压绝缘测试>: 利用高压加于某一有绝缘程度的物体两端, 通过漏电流的大小来判知物体之间绝缘性是否达到其绝缘的规格之要求, 在此, 我们是把单体的NEVTRAL与LINE短路接于高压HV端, 输出端与地线短路接向RETURN端, 加入高压, 量测漏电流之大小, 来判定输入端与输出端, 以及输入端对接地端绝缘度是否符合安全规格之要求,

2. GROUND CONTINVITY(接地测试)：对AC输入端的GND及待测物的外壳灌入25A的电流,测得地线与外壳不能完全接触,这样测量得阻值会大于0.1Ω.只有通过GROUND CONTINUITY 测试才符合安规要求,

3. ARCING TEST(电弧测试)：当高压的两端靠很近时,会有尖端放电现象产生,此一现象经长时间的发生将可能对产品产生很大的伤害,较常见的现象有,当要组件两端加高压时,组件脚有一个未焊住,但与焊点有接触,在振动时,偶尔脱开很小幅度,从而产生尖端放电或有些组件绝缘层有少许的刮伤,                                       

     ARCING定义：ARC为一物理现象,通常是指两端点之间,因距离不够或介质存在,          

     而在通电时产生的一个跳火现象,此跳火现象通常为非连续性的,

    ARCING侦测的目的：ARC的产生,并不会造成产品立即故障或对人体伤害的问题,但它会随使用时的的增长,而造成两端点间的绝缘日益破坏,进而造成机器的故障或对人体的危害,例如”SPS内的PCB的螺丝锁紧,可能会因工作一段时间后,中间介质阻抗改变,造成浮动电位,进一步破坏PCB内部组件,或因ARC的产生,影响SPS的正常工作.因此ARC侦测的目的在防患未然,也可说是产品可靠度试验,

ARC侦试线路原理：在ARC的定义列ARC为非连续性的,且约为1KHZ以上的PLUSE OR SPIKE 的高频信号,因此ARC侦测线路原理如下：

   从被测物电流讯号经过两回路,一为20—PASS  FILTER,20—PASS  FIELTER 

   是将电流信号转换成RMS值,以便量测与判定,HI—PASS  FILTER则是当被测物电  

   流信号有ARC(高频信号)产生时,将低频滤掉,只留高频信号,并经过量测与判别,以上为ARC侦测线路原理.

  ARC功能侦测计算：ARC的产生与两端点间的电压与距离有关,因此,ARC的产生

   通常在高压时产生,也就是在波峰产生,并且ARC的高频讯号也是载在波峰上故计算

   与量测方式都是以MHP：

例(一)：

      测试电压AC1250VAC时：

      VP=1250*√2=1768V,以电阻500KΩ做介质

      GAP=两端点距离调整至ARC刚好产生,约0.5MM左右

      因此,ARC电流为I=V/R=1768/1500K=3.5MAP

从上述来看,可奥姆定律来计算,但此为理论值,故我们必须考虑各种误差的可能,如

GAP大小,电阻含   性等因素.

ARC等级说明:

9等级(0.0027A)

8等级(0.0055A)

7等级(0.0077A)

6等级(0.0100A)

5等级(0.0120A)

4等级(0.0140A)

3等级(0.0160A)

2等级(0.0180A)

1等级(0.0200A)

三 测试设备：

1. AC WITHSTANDING VOLTAGE TESTER(交流抗压测试器)

2. AC 20W RESISTANCE TESTER(交流低电阻测试仪)

3. 振动机台.

四.测试项目

   1.HI-POT TEST   (高压测试)

   2.ARCING TEST   (高弧测试)

4. GROUND CONTINUITY TEST(接地测试)

5. INSULATION     (绝缘阻抗测试)

五.仪器操作(以7440为参考)

   1.WITHSTANDING  VOLTAGE  TESTER 选择项目选按AC-W键：

           W-VOLT     1500V         （按数字键输入）

           HIIMIT      13MA          (按数字键输入)

           LO-LIMIT    8.0MA         (按数字键输入)

           RAMP TIME    1S           (按数字键输入)

           DWEU TIME    3S           (按数字键输入)

           FREQVENCY   60HZ         (已设定好)

           ARC  SENSE     8           (已设定好)

           ARC  FAIL      ON          (按ENTER键切换ON/OFF)

           SCANNER SETCH             (未用)

           OFFSET                      (未设定)

           CONNECT     ON或OFF     (按ENTER键切换ON/OFF)

         按“V”键上下翻页按‘ENTER’自动存储,AC或DC请按ENTER键切换,设定一样欲  知详细设定,请参考使用者手册.

         AC  LOW  RESISTANCE  TESTER

         先按：GROUNDING后

           CURRENT     25A       (已设定好)

           CURRENT      25A         (已设定好)

           VOLTAGE       8V          (已设定好)

           HI-LIMIT      0.1MΩ       (按数字键输入)

           20-LIMIT       0MΩ        (按数字键输入)

           PWELL TIME    2S          (按数字键输入)

           FREQUENCY  60HZ或50HZ  (按数字键输入)

           SCANNER       CH          (未用)

           OFFSET                      (未设定)

           CONNCT      ON或OFF     (按ENTER键切换)

           按‘ENTER’键结束

六.仪器检查

   1.HI-POT的检查

     治具原理:用一个固定电阻箱检查HI-POT的输出电压,根据线路原理:U=IR,计算出治具检

     测时之漏电流值,并作DAILY  CHECK之比较依据.

     按MEMORY键,输入治具上标明之电流参数,接好FAIL SAMPLE按TEST,应听到蜂呜器的

     叫声,且电流值应大于FAIL  SAMPLE上标明之漏电流值.

七.测试判定

  测试不良分以下几种:

  BREAKDOWN            OVER FLOW+ARC:输出过载, 电弧信号

  SHORT                  OVER FLOW :输出过载

  HI LIMIT FAIL            OVER HI LIMIT SETTING : 电流过大失败

  ARC FAIL                >10VS PEAK CURRENT DETECTING

  LO LIMIT FAIL           UNDER LO LIMIT SETTING : 电流过小失败

  OPEN                   CHANGE LO : 直流电压缓升充电电流

  OFL                     OVER FLOW :输出过载